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인쇄 전자소자 롤 표면 검사기 | JAVIS™-E
인쇄 전자소자 롤 표면
검사기 | JAVIS™-E
MLCC제조에 필수적인 초정밀 그라비아 인쇄 롤은 제작 과정 중 다양한 표면 결함 및 미세패턴 결함이 발생할 수 있습니다.
JAVIS™-E은 이러한 결함을 최소화하기 위한 전자동/초고속/초정밀 검사기입니다.
MLCC제조에 필수적인 초정밀
그라비아 인쇄 롤은 제작 과정 중
다양한 표면 결함 및 미세패턴
결함이 발생할 수 있습니다.
JAVIS™-E은 이러한 결함을
최소화하기 위한 전자동/초고속/
초정밀 검사기입니다.
주요특징
- 초고속‧초정밀‧전자동 표면 결함 검사
– 3.5 ㎛ 레벨의 Micro Defect 검사 (최소 검출 사이즈 : 7㎛)
– Ø150 x L590 mm 롤러 기준 검사 시간 3분 이내 소요 - 다양한 공정에 활용
– 동 도금 후, 레지스트리 출력 후, 크롬 도금 후, DLC 코팅 후
- 초고속‧초정밀‧전자동 표면 결함 검사
- 패턴 인식 기능 (특허등록번호 : 10-1732820)
– 롤 표면에 존재하는 미세 패턴을 자동으로 인식하여 패턴의 형상 결함도 검출 가능
– 기존 데이터 비교가 아닌 Rule과 Deep Learning 기반의 데이터 분석을 통해 검사 속도 대폭 개선 - 정확한 결함 판정을 위한 2D 라이브 뷰
– 정지 상태에서 관심 영역에 대해 실시간 관찰 가능 - 부적합품 관리를 위한 자동 펜 마커 기구
– 검사완료 후 자동 혹은 사용자가 지정한 결함 주변부에 마킹 - 검사 데이터 및 이력 자동 기록 관리
– 제품 정보, 전체 검사 영역에 대한 원본(raw) 데이터, 검출‧결함부에 대한 Crop 데이터 자동 저장
- 패턴 인식 기능 (특허등록번호 : 10-1732820)
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기술사양
검사 분야 | 인쇄전자 (MLCC, RFID, TSP, FPCB, Solar Cell) |
검사 제품 | 그라비아 인쇄 롤 (Cu, PR, Cr, DLC) |
검사 항목 | 표면 결함 (핀홀, 찍힘, 스크래치, 박리, 방전흔) 패턴 결함 (셀 막힘) |
스캔 해상도 | < 3.5 ㎛ |
검사 소요 시간 | Ø150 x L550 mm 기준 3분 이내 (스타트 ~ 검사 종료까지) |
부가 기능 | 펜 마킹, 라이브 뷰 |