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인쇄 전자소자 롤 표면 검사기 | JAVIS™-EX

인쇄 전자소자 롤 표면
검사기 | JAVIS™-E

JAVIS™-E를 기반으로 정밀 측정 기능을 확장한 플래그십 모델입니다.
MLCC 및 인쇄 전자 제판에서 형상 · 표면 거칠기 · 진원도 등 중요한 정보를 통합적으로 관리하고,
제품 개발 및 제조 공정의 최적화를 실현합니다.

MLCC제조에 필수적인 초정밀
그라비아 인쇄 롤은 제작 과정 중
다양한 표면 결함 및 미세패턴
결함이 발생할 수 있습니다.
JAVIS™-E은 이러한 결함을
최소화하기 위한 전자동/초고속/
초정밀 검사기입니다.

주요특징
    • 초고속‧초정밀‧전자동 표면 결함 검사
      – 2.5 ㎛ 레벨의 Micro Defect 검사
      – Ø150 x L590 mm 롤러 기준 검사 시간 3분 이내 소요
    • 다양한 공정에 활용
      – 동 도금 후, 레지스트리 출력 후, 크롬 도금 후, DLC 코팅 후
    • 3D 계측
      – 셀 깊이/부피/간격, PR층 필름 두께 등 중요한 항목을 3D 입체 측정하여 정밀한 공정 품질 기준 확립을 지원
    • 패턴 인식 기능 (특허등록번호 : 10-1732820)
      – 롤 표면에 존재하는 미세 패턴을 자동으로 인식하여 패턴의 형상 결함도 검출 가능
      – 기존 데이터 비교가 아닌 Rule과 Deep Learning 기반의 데이터 분석을 통해 검사 속도 대폭 개선
    • 정확한 결함 판정을 위한 2D 라이브 뷰
      – 정지 상태에서 관심 영역에 대해 실시간 관찰 가능
    • 부적합품 관리를 위한 자동 펜 마커 기구
      – 검사완료 후 자동 혹은 사용자가 지정한 결함 주변부에 마킹
    • 검사 데이터 및 이력 자동 기록 관리
      – 제품 정보, 전체 검사 영역에 대한 원본(raw) 데이터, 검출‧결함부에 대한 Crop 데이터 자동 저장

기술사양

검사 분야인쇄전자 (MLCC, RFID, TSP, FPCB, Solar Cell)
검사 제품그라비아 인쇄 롤 (WC, Cu, PR, Cr, DLC)
검사 항목표면 결함 (핀홀, 찍힘, 스크래치, 박리, 방전흔)
패턴 결함 (미에칭, 과에칭, Wall 무너짐, Cell 막힘)
스캔 해상도< 2.5 ㎛
검사 소요 시간Ø150 x L550 mm 기준 3분 이내
(스타트 ~ 검사 종료까지)
부가 기능3D계측(패턴 크기/두께, 셀 깊이/체적, 표면 거칠기), 롤 진원도 측정, 잉크젯 마킹, 레이저 마킹, 라이브 뷰
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