HOME / 측정 검사 시스템 / 비전 검사 / JAVIS™-EX

인쇄 전자소자 롤 표면 검사기 | JAVIS™-EX

인쇄 전자소자 롤 표면
검사기 | JAVIS™-E

JAVIS™-E를 기반으로 정밀 측정 기능을 확장한 플래그십 모델입니다.
MLCC 및 인쇄 전자 제판에서 형상 · 표면 거칠기 · 진원도 등 중요한 정보를 통합적으로 관리하고,
제품 개발 및 제조 공정의 최적화를 실현합니다.

MLCC제조에 필수적인 초정밀
그라비아 인쇄 롤은 제작 과정 중
다양한 표면 결함 및 미세패턴
결함이 발생할 수 있습니다.
JAVIS™-E은 이러한 결함을
최소화하기 위한 전자동/초고속/
초정밀 검사기입니다.

주요특징

초정밀 All-in-One 플랫폼

  • 검사 ‧ 수리 ‧ 정밀 계측을 하나의 시스템에서 통합 수행
  • MLCC 및 인쇄전자 롤 공정 품질을 통합 관리
  • 전 공정 자동화를 통해 불량률 저감 및 품질 안정화 실현

2.5μm 초고해상도 검사

  • 최소 식별 크기 2.5μm/pixel의 고해상도 검사
  • 미세 패턴 및 표면 결함 정밀 검출

LSCM 기반 나노 정밀 계측

  • 레이저 주사형 공초점 현미경(LSCM) 적용
  • 전극 간격 · 표면 조도 · 진원도 정량 측정
  • MLCC 수율 분석을 위한 정밀 데이터 제공

AVI 적용 3D 자동 계측

  • Active Vibration Isolation(AVI)로 진동 영향 최소화
  • 지정 포인트 자동 이동 기반 3D 측정 자동화
  • 반복 정밀도 및 측정 신뢰성 향상

레이저 방식 진원도 측정

  • 롤 엣지 검출 기반 고정밀 측정
  • 재질 및 반사 특성 영향 최소화
  • 형상 분석 및 진원도 정밀 관리

핵심 공정 항목 3D 분석

  • 셀 깊이 · 체적 · 토폭 · PR 막 두께 3D 계측
  • 공정 품질 기준 정립 지원
  • 데이터 기반 정량 품질 관리 체계 구축

제조 전 공정 형상 변화 추적

  • 베이스 → 동도금 → 레이저 현상 → 크롬 도금
    → DLC 코팅 전 과정 관리
  • 형상 변화 정량 추적
  • 롤 수명 분석 및 관리 사이클 최적화

기술사양

검사 분야인쇄전자 (MLCC, RFID, TSP, FPCB, Solar Cell)
검사 제품그라비아 인쇄 롤 (WC, Cu, PR, Cr, DLC)
검사 항목표면 결함 (핀홀, 찍힘, 스크래치, 박리, 방전흔)
패턴 결함 (미에칭, 과에칭, Wall 무너짐, Cell 막힘)
스캔 해상도< 2.5 ㎛
검사 소요 시간Ø150 x L550 mm 기준 3분 이내
(스타트 ~ 검사 종료까지)
부가 기능3D계측(패턴 크기/두께, 셀 깊이/체적, 표면 거칠기), 롤 진원도 측정, 잉크젯 마킹, 레이저 마킹, 라이브 뷰

JAVIS™-E
인쇄 전자소자용 롤 표면 검사

JAVIS™-P
식품포장 인쇄용 롤 표면 검사

JAVIS™-O
마이크로 패턴 롤 표면 검사

JAVIS™-M
자동차 엔진 부품 표면 검사