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印刷電子素子ロール表面検査機 | JAVIS™-E

MLCC製造に欠かせない超精密グラビア印刷ロールは、その製作過程で様々な表面欠陥及び微細パターン欠陥が発生することがあります。
JAVIS™-Eは、このような欠陥に対する全自動/超高速/超精密の検査機です。

MLCC製造に欠かせない超精密グラビア印刷ロールは、その製作過程で様々な表面欠陥及び微細パターン欠陥が発生することがあります。
JAVIS™-Eは、このような欠陥に対する全自動/超高速/超精密の検査機です。

主な特長
  • 超高速・超精密・全自動表面欠陥検査
    – 3.5μmレベルのMicro Defect検査(最小検出サイズ: 14μm)
    – 検査時間3分所要(Φ150xL590mmローラー基準)
  • 多様な工程に活用
    – 銅メッキ後、レジストリ出力後、クロムメッキ後、DLCコーティング後
  • パターン認識機能 (特許登録番号: 10-1732820)
    – ロール表面に存在する微細パターンを自動的に認識し、パターンの形状欠陥も検出可能
    – 原始データの比較ではなく、ルールベースのデータ分析により検査速度を大幅に改善
  • 2Dライブビューによる正確な欠陥判定
    – 停止状態で関心領域をリアルタイムで観察可能
  • 不適合品管理のための自動ペンマーカー機構
    – 検査完了後、指定された1つ以上の欠陥の中心点から1cm角度内にマーキング
  • 検査データ及び履歴を自動記録管理
    – 製品情報、全体検査領域に対する原始(raw)映像、検出·欠陥部に対するCrop映像を自動保存
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超高速・超精密・全自動表面欠陥検査
検査分野 印刷電子 (MLCC, RFID, TSP, FPCB, Solar Cell)
検査製品 グラビア印刷ロール (Cu, PR, Cr, DLC)
検査項目 表面欠陥 (ピンホール・打痕・スクラッチ・剥離・放電痕)、パターン欠陥(セルの目詰り)
スキャン解像度 < 3.5 ㎛
検査所要時間 Ø150 x L550 mm 基準、3分以内 (開始から検査終了まで)
付加機能 ペンマーキング、ライブビュー
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