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マイクロパターンロール表面検査機 | JAVIS™-O

光学フィルム成形用マイクロパターンロールは、製作時に様々な表面欠陥及び微細パターン欠陥が発生することがあります。
JAVIS™-Oは、このような欠陥を迅速かつ精密に検出する全自動検査機です

光学フィルム成形用マイクロパターンロールは、製作時に様々な表面欠陥及び微細パターン欠陥が発生することがあります。
JAVIS™-Oは、このような欠陥を迅速かつ精密に検出する全自動検査機です

主な特長
  • 超高速·超精密·全自動表面欠陥検査
    – 1μmレベルのMicro Defect検査(最小検出サイズ: 4μm)
    – 検査時間30分所要(Φ300xL1700mmローラー基準)
    – Real-Time Autofocusベースで高品質のイメージを獲得

  • 周期的なパターン除去基盤の欠陥検出
    – 非周期的な欠陥を迅速かつ正確に検出

  • 正確な欠陥判定のための2Dライブビュー
    – 停止状態で関心領域をリアルタイムで観察可能

  • 不適合品管理のための自動ペンマーカー機構 – 検査完了後、指定された1つ以上の欠陥の中心点から1cm角度内にマーキング

  • 検査データ及び履歴を自動記録管理
    – 製品情報、全体検査領域に対する原始(raw)映像、検出·欠陥部に対するCrop映像を自動保存
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기술사양

検査分野 ディスプレー
検査製品 プリズムシート成形用ロール金型
検査項目 表面欠陥(打痕、スクラッチ、剥離、ムラ)
パターン欠陥(ピッチ、Burr、変形)
スキャン解像度 < 1 ㎛
検査所要時間 Ø300 x L1700 mm 基準、30分以内
(検査開始から検査終了まで)
付加機能 ペンマーキング、ライブビュー
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