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全自動表面欠陥検査
– 検査条件の入力が不要
高い検査精度と処理速度
– 段差が生じる欠陥(ピンホール、傷、打痕等)検査に最適化された光学設計
多様な工程に活用
– 銅メッキ後、クロムメッキ後
便利なローラーハンドリング
– 自動ローダーユニット提供
不適合品管理のための自動ペンマーカー機構
– 検査完了後、指定された1つ以上の欠陥の中心点から1cm角度内にマーキング
直観的なUI
– 全領域に対する段階的拡大図を提供
検査分野 | 軟包装 |
検査製品 | バフ研磨された銅メッキグラビア印刷ロール |
検査項目 | 表面欠陥(ピンホール・打痕・スクラッチ・剥離・シミ) |
スキャン解像度 | < 42 ㎛ |
検査所要時間 | Ø250 x L1100 mm基準、1分以内 (開始から検査終了まで) |
付加機能 | ペンマーキング、ライブビュー |